표면 결함 검출을 위한 하이브리드 데이터 카메라
2D 이미징을 넘어, 정밀 결함 검출의 새로운 가능성 구현
통합된 Photometric Stereo와 Phase Deflectometry 기술을 통해, 복잡한 표면에서도 핵심 디테일을 안정적으로 캡처합니다. 이를 통해 제조사는 공정 안정성을 최대 60%까지 향상시키고, 고속 생산 라인을 더욱 최적화할 수 있습니다.
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FPGA 기반 고성능 처리 -
㎳급 즉각 응답 -
하드웨어 트리거 기반 조명 -
실시간 자동 HDR -
방수·방진 설계 (IP65) -
높은 시스템 통합성
MEGA PHASE 제품 라인업
강력한 성능, 즉시 적용 가능한 설계, 어떤 생산 라인에서도 검증된 내구성
