DM Series
고반사·투명 소재 미세 결함 검사의 새로운 기준
Phase Measuring Deflectometry Mode는 미세 결함 검사에 새로운 기준을 제시하며, 다음과 같은 한계를 효과적으로 극복합니다.
• 고반사 표면에서 발생하는 과노출로 인한 디테일 마스킹 문제 (고반사 금속 표면, 웨이퍼 등)
• 투명·반투명 소재에서의 윤곽(컨투어) 손실 문제 (코팅 유리, 광학 플라스틱 등)
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Phase-Measuring Deflectometry Mode
Phase Measuring Deflectometry 기술을 바탕으로 위상 기울기 정보를 계산하여, 물리적 픽셀 해상도의 한계를 넘어 나노미터 수준의 결함 감지가 가능합니다.
Details
모델
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DM200
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DM162
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DM081
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해상도 (px)
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이미지 스케일
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CMOS 크기
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CMOS 타입
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노출 방식
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픽셀 크기
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전체 사이클 기준 프레임 속도 *1
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조명 인터페이스
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렌즈 마운트
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치수 (LxWxH)
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무게
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20M (4512 x 4512)
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1:1
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1.1"
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모노크롬 CMOS
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글로벌 셔터
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2.74μm x 2.74μm
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≤1.6FPS
≤3.2FPS(Binning) -
프로그래머블 스크린 조명 인터페이스 (Mini HDMI*1)
4채널 표준 조명 인터페이스 (3핀, 카메라 동기 노출, 전체 전류 ≤ 6A) -
C-Mount
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138.5mm x 120mm x 52.3mm
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680g
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16.2M (5328 x 3040)
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16:9
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1.1"
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모노크롬 CMOS
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글로벌 셔터
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2.74μm x 2.74μm
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≤1.85FPS
≤3.3FPS (Binning) -
프로그래머블 스크린 조명 인터페이스 (Mini HDMI*1)
4채널 표준 조명 인터페이스 (3핀, 카메라 동기 노출, 전체 전류 ≤ 6A) -
C-Mount
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138.5mm x 120mm x 52.3mm
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680g
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8.1M (2856 x 2848)
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1:1
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2/3"
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모노크롬 CMOS
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글로벌 셔터
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2.74μm x 2.74μm
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≤2FPS
≤3.5FPS (Binning) -
프로그래머블 스크린 조명 인터페이스 (Mini HDMI*1)
4채널 표준 조명 인터페이스 (3핀, 카메라 동기 노출, 전체 전류 ≤ 6A) -
C-Mount
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138.5mm x 120mm x 52.3mm
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680g
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*1전체 사이클은 노출 시작부터 데이터 전송 종료까지의 시간을 의미하며, 500EXPI, 노출 강도 50, XY 듀얼 사이클 방식, 세 개의 출력 채널(Gray, Phase X, Phase Y) 및 스크린 조명 재생률 120Hz 기준으로 측정되었습니다.
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글로벌 산업 리더들의 선택Mega Phase 제품은 글로벌 선도 기업의 고급 생산 라인에서 대규모 검증을 완료했으며, 평균 무고장 운전 시간(MTBF) 10만 시간 이상을 달성하고 공신력 있는 인증 기준을 충족했습니다. 또한 72시간 긴급 주문 대응을 지원합니다.
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뛰어난 서비스와 신뢰성 보장4시간 이내 신속한 대응, 7일 이내 솔루션 제공, 고장 진단부터 부품 교체 및 검증 보고서까지의 모든 과정을 포함합니다.
